Thetametrisis便携式光学膜厚仪FR-prtable是一款独特的USB便携式测量仪器，可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行准确的无损（非接触式）表征。

Filmetrics F54薄膜厚度测量仪能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米

硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。

Filmetrics 自动化厚度测量仪能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，一般较短的波长 （例如， F50-UV） 可用于测量较薄的薄膜，而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics F3-sX半导体薄膜测量仪可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测大厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均

硅片厚度测量仪采用的是近红外光(NIR)来测量膜层厚度，因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层( 比如半导体膜层) 。980nm波长型号，F3-s980，专门针对低成本预算应用。F3-s1310针对于高参杂硅应用。F3-s1550则针对较厚膜层设计。