• 欢迎来到岱美仪器技术服务(上海)有限公司网站!
    咨询热线

    13917837832

    当前位置:首页  >  产品中心  >  膜厚仪  >  硬化涂层膜厚仪  >  FR-pRoThetametrisis膜厚测量仪

    Thetametrisis膜厚测量仪

    简要描述:Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层。

    • 产品型号:FR-pRo
    • 厂商性质:代理商
    • 更新时间:2022-01-20
    • 访  问  量: 304

    详细介绍

    Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo概述:

    FR-pRo膜厚仪: 按需搭建的薄膜特性表征工具。

    FR-pRo膜厚仪是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层。

    FR-pRo膜厚仪是为客户量身定制的,并广泛应用于各种不同的应用。

    比如:

    吸收率/透射率/反射率测量,薄膜特性在温度和环境控制下甚至在液体环境下的表征等等…

    Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo应用:

    1、大学&研究实验室

    2、半导体行业

    3、高分子聚合物&阻抗表征

    4、电介质特性表征

    5、生物医学

    6、硬涂层,阳极氧化,金属零件加工

    7、光学镀膜

    8、非金属薄膜等等…

    FR-pRo膜厚仪可由用户按需选择装配模块,核 心部件包括光源,光谱仪(适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统)和控制单元,电子通讯模块。

    此外,还有各种各种配件,比如:

    1.用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架;

    2.用于表征涂层特性的薄膜厚度工具;

    3.用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒;

    4.漫反射和全反射积分球。

    通过不同模块组合,蕞终的配置可以满足任何终端用户的需求。

    Specificatins 规格:

    Model

    UV/Vis

    UV/NIR -EXT

    UV/NIR-HR

    D UV/NIR

    VIS/NIR

    D Vis/NIR

    NIR

    光谱范围  (nm)

    200 – 850

    200 –1020

    200-1100

    200 – 1700

    370 –1020

    370 – 1700

    900 – 1700

    像素

    3648

    3648

    3648

    3648 & 512

    3648

    3648 & 512

    512

    厚度范围

    1nm – 80um

    3nm – 80um

    1nm – 120um

    1nm – 250um

    12nm – 100um

    12nm – 250um

    50nm – 250um

    测量n*k 蕞小范围

    50nm

    50nm

    50nm

    50nm

    100nm

    100nm

    500nm

    准确度*,**

    1nm or 0.2%

    1nm or 0.2%

    1nm or 0.2%

    1nm or 0.2%

    1nm or 0.2%

    2nm or 0.2%

    3nm or 0.4%

    精度*,**

    0.02nm

    0.02nm

    0.02nm

    0.02nm

    0.02nm

    0.02nm

    0.1nm

    稳定性*,**

    0.05nm

    0.05nm

    0.05nm

    0.05nm

    0.05nm

    0.05nm

    0.15nm

    光源

    氘灯 & 钨卤素灯(内置)

    钨卤素灯(内置)

    光斑 (直径)

     

     

    350um (更小光斑可根据要求选配)

     

     

    材料数据库

     

     

     

    > 600 种不同材料

     

     

     

    Accessries 配件:

    电脑

    19 英寸屏幕的笔记本电脑/触摸屏电脑

    聚焦模块

    光学聚焦模块安装在反射探头上,光斑尺寸<100um

    薄膜/比色皿容器

    在标准器皿中对薄膜或液体的透射率测量

    接触式探头

    用于涂层厚度测量和光学测量的配件,适用于弯曲表面和曲面样品

    显微镜

    用于高横向分辨率的反射率及厚度显微测量

    Scanner  (motorized)

    带有圆晶卡盘的Polar(R-Θ)或 Cartesian(X-Y)自动化样品台可选,Polar(R-Θ)样品台支持反射率测量,Cartesian(X-Y)样品台支持反射率和透射率测量

    积分球

    用于表征涂层和表面的镜面反射和漫反射

    手动 X-Y 样品台

    测量面积为 100mmx100mm 或 200mmx200mm 的x - y 手动平台

    加热模块

    嵌入FR-tool 中,范围由室温~200oC,通过FR-Monitor 运行可编程温控器(0.1 oC 精度).

    液体模块

    聚四氟乙烯容器,用于通过石英光学窗口测量在液体中的样品。样品夹具,

    用于将样品插入可处理 30mmx30mm 样品的液体中

    流通池

    液体中吸光率、微量荧光测量

    工作原理:

    白光反射光谱(WLRS)是测量垂直于样品表面的某一波段的入射光,在经多层或单层薄膜反射后,经界面干涉产生的反射光谱可确定单层或多层薄膜(透明,半透明或全反射衬底)的厚度及 N*K 光学常数。

    * 规格如有更改,恕不另行通知; ** 厚度测量范围即代 表光谱范围,是基于在高反射衬底折射率为 1.5 的单层膜测量厚度。

     

     

    产品咨询

    留言框

    • 产品:

    • 您的单位:

    • 您的姓名:

    • 联系电话:

    • 常用邮箱:

    • 省份:

    • 详细地址:

    • 补充说明:

    • 验证码:

      请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7